Microscope Electronique à transmission de 300kV avec correcteur d'image


5067460 SIMAP - 27.07.2016
Grund: Öffentliches Beschaffungswesen (Berichtigung - Quelle: SIMAP)
- Verfahrensart:  Offenes Verfahren

1. Auftraggeber
1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers
Bedarfsstelle/Vergabestelle
ETH Zürich
Beschaffungsstelle/Organisator
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Scientific Center for Optical and Electron Microscopy (ScopeM)
Dr. Nicolas Blanc
Auguste-Piccard-Hof 1 - HPT D 5
8093 Zürich
Schweiz
Telefon:
Fax:
E-Mail: nicolas.blanc@scopem.ethz.ch
URL: www.scopem.ethz.ch
1.2 In der ursprünglichen Bekanntmachung zu berichtigende Adresse
Keine Änderung
1.3 Art des Auftraggebers
Bund (Dezentrale Bundesverwaltung - öffentlich rechtliche Organisationen)
1.4 Verfahrensart
Offenes Verfahren

2. Beschreibung
2.1 Projekttitel der Beschaffung
Microscope Electronique à transmission de 300kV avec correcteur d'image
2.2 Detaillierter Aufgabenbeschrieb
Microscope Electronique en Transmission (MET) de 300 kV incluant un correcteur d'aberration de sphéricité de l'image. Le microscope sera utilisé aussi bien en mode transmission (MET) qu'en mode à balayage en transmission (MEBT) et doit être équipé pour i) la haute résolution, ii) des mesures in-situ et iii) l'analyse de la composition des échantillons par spectroscopie des rayons X à dispersion d'énergie (EDX "energy dispersive X-ray spectroscopy") et par spectros-copie de pertes d'énergie des électrons (EELS "Electron energy loss spectroscopy"). Cet instrument sera dédié à des analyses structurelles et de compositions chimiques de divers compo-sants utilisés en chimie, physique et sciences des matériaux, avec notamment la possibilité d'effectuer des mesures in-situ en temps réel de transformations chimiques et physiques (catalyse, transformations de phase).
L'instrument doit permettre d'obtenir au quotidien des images en transmission à haute résolution (= 0.1 nm à 300 kV), non seulement lorsque l'instrument est utilisé par un expert, mais aussi par un plus large spectre d'utilisateurs, situation typique dans le cadre d'un centre de microscopie ouvert à de nombreux utilisateurs. Le système doit ainsi être robuste et facile d'utilisation, être très stable (aussi bien au niveau de la colonne optique, des parties mécaniques, de l'électronique), disposer d'un excellent système de vide et permettre de réaliser des mesures in-situ avec des porte-échantillons chauffant et de type fermés (pour mesures en milieux liquides et gazeux) ainsi que - en option - un système ouvert pour la mesure en milieu gazeux avec un porte-échantillon chauffant.
L'instrument doit offrir les modes opératoires suivants :
Microscopie à balayage en transmission (MEBT) et mesures analytiques de type spectroscopie des rayons X et des pertes d'énergie des électrons; Diffraction sur zone d'intérêt, nano-diffraction; imagerie en champ sombre, champ clair, et, en mode ba-layage, champ clair et champ sombre annulaire, champ sombre annulaire à grand angle avec l'acquisition simultanée d'au moins deux signaux; mode acquisition basse dose pour minimiser l'exposition de l'échantillon.
Détecteurs et spectroscopie :
- Caméra avec haute sensibilité, haut DQE, haute dynamique, résolution de 4k x 4k, au minimum 200 images/s (à 512 x 512) et haute résistance aux faisceaux d'électrons (pour mesure en diffraction).
- Capteur annulaire en champ sombre à grand angle pour MEBT.
- Capteur pour spectroscopie par sélection d'énergie avec une résolution en énergie de 150 eV ou mieux, une surface de > 80 mm2 et un angle solide de = 0.8 srad.
- Spectroscopie de pertes d'énergie des électrons et microscopie électronique à transmis-sion filtrée en énergie avec acquisition simultanée des électrons élastiques et des élec-trons des pertes de coeur, lecture rapide, résolution de = 0.25 eV.
Porte-échantillons in-situ :
- Porte-échantillon double tilt chauffant et à tension appliquée.
- Porte-échantillon pour mesure environnementale avec une cellule gazeuse chauffante basée sur une structure MEMS et/ou système en configuration ouverte (avec buse).
- Porte-échantillon en milieu liquide avec possibilité de chauffage et mesures de processus électrochimiques.
D'autre part les options suivantes seront prises en considération :
- MEBT : correcteur de l'aberration de sphéricité de la sonde; détecteur d'électrons secondaires ou rétrodiffusés.
- Porte-échantillons: porte-échantillon simple tilt analytique (à faible bruit de fond pour la spectroscopie des rayons X), porte-échantillon pour tomographie, porte-échantillon traction simple tilt, porteéchantillon chauffant simple tilt pour disque MET standard de 3 mm de diamètre.
- Spectromètre de masse pour la mesure de gaz residuels issus du porte-échantillon à gaz.
- Système de nettoyage d'échantillon.
- Module pour imagerie d'orientation.
Autres informations détaillées: voir cahier des charges.
2.4 Gemeinschaftsvokabular
CPV: 38511000 - Elektronenmikroskope

3. Referenz
3.1 Referenznummer der Bekanntmachung
Publikation vom: 24.06.2016
im Publikationsorgan: Simap
3.2 Diese Bekanntmachung bezieht sich auf
Berichtigung

4. Folgende Stellen sind in der ursprünglichen Meldung zu berichtigen

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Alle Daten und Verweise sind ohne Gewähr und haben keinerlei Rechtswirkung. Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die vom seco mit einer elektronischen Signatur versehenen SHAB-Daten.