Microscopes électroniques


2706383 SIMAP - 30.12.2010
Grund: Öffentliches Beschaffungswesen (Zuschlag - Quelle: SIMAP)

Zuschlag
Publikationsdatum Simap : 29.12.2010

1. Auftraggeber
1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers
Bedarfsstelle/Vergabestelle : Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne et Université de Lausanne
Beschaffungsstelle/Organisator : Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
Centre Interdisciplinaire de Microscopie Electronique (CIME), zu Hdn. von Prof. Cécile Hébert, Bâtiment MXC - Station 12, 1015 Lausanne, Schweiz

1.2 Art des Auftraggebers
Bund (Dezentrale Bundesverwaltung - öffentlich rechtliche Organisationen)
1.3 Verfahrensart
Offenes Verfahren

1.4 Auftragsart
Lieferauftrag

1.5 Gemäss GATT/WTO-Abkommen, resp. Staatsvertrag
Ja

2. Beschaffungsobjekt
2.1 Projekttitel der Beschaffung
Microscopes électroniques
Beschaffungs-Nr 3
Kurze Beschreibung: Dossier 1007-3372 / Transmission Electron Microscope for Materials Science. Die EPFL beabsichtigt ein Transmissionelektronenmikrosop anzuschaffen welches im Elektronenmikroskopiezentrum (CIME) installiert wird. Das neue Mikroskop wird dazu dienen die Mikro- und Nano-Struktur ebenso wie die chemische Zusammensetzung von Proben im Bereich der Materialwissenschaften, Physik und Chemie zu untersuchen. An dem Gerät werden eine grosse Zahl von Benutzern (~60 Benutzer auf einem ähnlichen, zu ersetzenden Gerät) und auch Studenten (unter Aufsicht) arbeiten. Das Gerät muss es ermöglichen mit grosser Effizienz (Probendurchsatz und Stabilität) zu arbeiten. Da mehrere Proben pro Arbeitssitzung (typischerweise 4 Stunden) untersucht werden müssen soll das System eine hohes Mass an mechanischer (Drift) und elektronischer (Alignmensts) Stabilität aufweisen und mit einem EDX-System ausgerüstet sein, welches ein artefakt-freies schnelles Arbeiten erlaubt. Alle Arbeiten sollten über eine intergrierte und einheitliche Benutzeroberfläche ausgeführt werden, welche den Bedürfnissen und der Erfahrung des Benutzers angepasst werden kann. Techniken (nicht ausschliessend): Defect and texture analysis: Bright field / Dark field imaging, selected area diffraction, Nano-diffraction Analytical EM: STEM BF/DF/HAADF imaging, EDX analysis: Fast and high-resolution EDX element mapping Electron crystallography: Spinning star (already used on a cm20), Texture analysis (TEM-?EBSD?) ?High-resolution? TEM: Lattice imaging, defect analysis, inspection of interfaces, particle analysis (size, shape and structure (core-shell) Occasional needs: Heating and cooling, Traction experiments Optional: EELS (spectroscopy in STEM mode)
2.2 Gemeinschaftsvokabular
CPV: 38511200 - Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope

3. Zuschlagsentscheid
3.2 Berücksichtigte Anbieter
Liste der Anbieter
Name : FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich, c/o BDO AG Fabrikstrasse 50, 8005 Zurich, Schweiz
Preis: Ohne Angabe, gemäss Art 23, Abs 3, Lit b) BöB


3.3 Begründung des Zuschlagsentscheides
Begründung : Das gewählte Material entspricht zum jetzigen und voraussehbaren Zeitpunkt am ehesten unseren finanziellen Mitteln und Bedürfnissen (Sicherung der Investitionen) unter Berücksichtigung der schnellen Entwicklung der Anforderungen in der Forschung.

4. Andere Informationen
4.1 Ausschreibung
Publikation vom : 24.08.2010
im Publikationsorgan : Simap
Meldungsnummer 530199
4.2 Datum des Zuschlags
Datum : 23.12.2010

4.5 Rechtsmittelbelehrung
Gegen diese Publikation kann gemäss Art. 30 BöB innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 3000 Bern 14 erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Publikation und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.

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